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PCT加速壽命老化箱采用自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計。
PCT高溫高壓蒸煮儀采用強力噴塵裝置,使用者可于面板上獨立操控F1、F2、F3之條件。采用振動設備可使每次噴塵濃度相同。精密的粉塵濃度收集器,可減少因操作不當而錯估濃度。符合JAS規(guī)格并可提供JAS規(guī)定測試用粉塵(6or8種)。
磁性材料PCT高溫老化箱ED數字型計時器,當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗*。壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣品質。一體成型矽膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。
pct蒸汽老化試驗箱規(guī)格/性能是一款可實現高溫、高壓、高濕等實驗條件的加速老化箱,屬特種壓力設備,大大加快了客戶對產品老化情況的了解。
pct老化試驗箱測試結構及裝置: 1、圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品,可預防試驗中有滴水結露現象,可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員、 2、程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水,每次加水可持續(xù)運行100小時(可根據客戶要求訂制,也可做成全自動補水系統(tǒng))
PCT高壓加速壽命老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產